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可靠性試驗項目及設備（-）
日期：2024-09-20 14:36
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摘要：
一、環(huán)境測試
產品在使用過程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等），會受到不同環(huán)境的應力（有些受到風吹雨濕、有些受到振動與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）；為了確認產品能在這些環(huán)境下正常工作，國標、行標都要求產品在環(huán)境方法模擬一些測試項目，這些測試項目包括：
1、高溫測試（高溫運行、高溫貯存）；
2、低溫測試（低溫運行、低溫貯存）；
3、高低溫交變測試（溫度循環(huán)測試、熱沖擊測試）；
4、高溫高濕測試（濕熱貯存、濕熱循環(huán)）；
5、機械振動測試（隨機振動測試、掃頻振動測試）；
6、汽車運輸測試（模擬運輸測試、碰撞測試）；
7、機械沖擊測試；
8、開關電測試；
9、電源拉偏測試；
10、冷啟動測試；
11、鹽霧測試；
12、淋雨測試；
13、塵砂測試；
上述環(huán)境試驗的相關國家標準如下（部分試驗可能沒有相關國標，或者是我還沒有找到）：
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法低溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法高溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：10℃～210℃
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法交變濕熱試驗》
進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍：30%RH～100%RH
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法長霉試驗》進行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。試驗范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。
產品在使用過程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等），會受到不同環(huán)境的應力（有些受到風吹雨濕、有些受到振動與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）；為了確認產品能在這些環(huán)境下正常工作，國標、行標都要求產品在環(huán)境方法模擬一些測試項目，這些測試項目包括：
1、高溫測試（高溫運行、高溫貯存）；
2、低溫測試（低溫運行、低溫貯存）；
3、高低溫交變測試（溫度循環(huán)測試、熱沖擊測試）；
4、高溫高濕測試（濕熱貯存、濕熱循環(huán)）；
5、機械振動測試（隨機振動測試、掃頻振動測試）；
6、汽車運輸測試（模擬運輸測試、碰撞測試）；
7、機械沖擊測試；
8、開關電測試；
9、電源拉偏測試；
10、冷啟動測試；
11、鹽霧測試；
12、淋雨測試；
13、塵砂測試；
上述環(huán)境試驗的相關國家標準如下（部分試驗可能沒有相關國標，或者是我還沒有找到）：
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法低溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法高溫試驗》；
GB/T2423.22—87《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：10℃～210℃
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法交變濕熱試驗》
進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍：30%RH～100%RH
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法長霉試驗》進行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。試驗范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產品環(huán)境試驗**部分：試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。
